Salta al contenuto principale
Metrologia applicata ai nanomateriali e metodi di analisi
Paragrafo
Immagine
Nanometrologia

L’attività di ricerca in nanometrologia ha tra i suoi obiettivi principali lo sviluppo e la caratterizzazione di materiali nanostrutturati a supporto di metodi di misura ad elevata sensibilità e risoluzione (es. Surface Enhanced Raman Scattering, Tip Enhanced Raman Scattering), lo sviluppo di metodi di misura correlativi (es. AFM-Raman) e/o ifenati (AF4-DLS-Raman) per l’identificazione di micro/nanoparticelle in matrici complesse (es. micro/nanoplastiche) e la produzione di nanomateriali con proprietà attive (es. antibatteriche).

Approcci di wet chemistry e metodi avanzati di fabbricazione di substrati micro/nanostrutturati vengono utilizzati per ottenere materiali standard alla nanoscala di diverse forme, dimensioni e composizione (es. nanosfere d’oro o d’argento), da utilizzare come sistema di amplificazione del segnale Raman nella rilevazione di contaminanti alimentari in tracce (es. pesticidi), per lo studio di matrici biologiche complesse e per la caratterizzazione chimico-morfologica di superfici di interesse industriale.

Lo sviluppo di metodi basati sulla spettroscopia Raman permette inoltre di coordinare e partecipare ai confronti metrologici interlaboratorio nell’ambito del Surface Analysis Working Group (SAWG) del CCQM e in ambito pre-normativo VAMAS.