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Sistemi modello 3D per materiali di riferimento e standard
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Nanoscale Standards

Il Settore sviluppa prototipi di campioni di lunghezza alla nanoscala mediante l’infiltrazione selettiva di copolimeri con allumina per Atomic Layer Deposition. Tali standard di lunghezza alla nanoscala servono per la calibrazione di microscopi AFM, SPM e per le tecniche di Fluorescenza a Raggi X a Riflessione Totale (TXRF). Tale attività è svolta in collaborazione col gruppo di Spettroscopia a raggi X del Sincrotrone di BESSY II del PTB di Berlino e col Centro di spettrometria di massa NICE-MSI del NPL.

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Contatti

Federico Ferrarese Lupi
E-mail
f.ferrareselupi@inrim.it