Metrologia della lunghezza alla scala atomica
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La metrologia dimensionale alla scala atomica mediante interferometria congiunta ottica e a raggi X promuove la realizzazione primaria del kilogrammo contando atomi di silicio attraverso la determinazione del volume della cella elementare. Inoltre consente di realizzare il metro alla scala delle dimensioni atomiche attraverso la misura della distanza interatomica degli atomi di silicio.
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Enrico Massa
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