Il laboratorio di microscopia a scansione di sonda è un punto di riferimento per la caratterizzazione di materiali magnetici alla nanoscala. I microscopi a forza atomica di cui è dotato, oltre a consentire misure di superficie e di proprietà meccaniche, offrono una varietà di tecniche di caratterizzazione in passo 2, che includono la microscopia magnetica, quella elettrica, quella piezoelettrica, e quella di potenziale di superficie (Kelvin probe). I microscopi sono dotati di sistemi per applicare e controllare il campo magnetico direttamente sui campioni da caratterizzare, e consentono di controllare la temperatura del campione attorno a temperatura ambiente (da -25 °C a + 150 °C).

Attraverso i microscopi AFM/MFM del laboratorio vengono caratterizzati materiali metallici e polimerici, sotto forma di film sottili e depositi, ma anche di dispositivi micro- e nano-strutturati, in funzione del campo magnetico applicato, sia per studi di carattere fondamentale, sia rivolti ad applicazioni tecnologiche, spintroniche, energetiche ed industriali.