Tirocinio 09: Topografia a contrasto di fase mediante interferometria a raggi X

Argomento: elettronica, meccanica, informatica

Divisione di riferimento: AE Metrologia applicata e ingegneria

SSO: 02 Metrologia della lunghezza

Tutore: Enrico Massa, ricercatore

Per informazioni: Massa, 011 3919 760, e.massa@inrim.it

Possibilità di part-time:

 

Descrizione delle attività previste nel tirocinio:

Nell’ambito della realizzazione dell’unità di massa mediante l’uso di un cristallo di silicio mono-isotopico, la misura del volume della cella elementare del silicio è una delle grandezze fondamentali d’ingresso.

La qualità del cristallo e le sue “apparenti” irregolarità, visibili con l’interferometria a raggi X, possono essere dei fattori limitanti. Recenti pubblicazioni internazionali e successive analisi sperimentali hanno evidenziato che i trattamenti termici sono potenzialmente utili al miglioramento della qualità dell’interferometro X.

Un’apparecchiatura meccanica progettata per valutare la qualità del cristallo e gli effetti di geometria (o di superficie) è funzionante. L’esperimento è formato da una sorgente di fotoni X, da due catene di conteggio X, da una slitta di traslazione/rotazione e modulazione dei segnali di interferenza nella regione X. L’elettronica e il software richiederebbero un aggiornamento compatibile con le attuali piattaforme di sviluppo hardware e software.

Si propone di progettare con una scheda di sviluppo National Instruments - LabVIEW Reconfigurable I/O (RIO), programmabile in linguaggio LabVIEW (software per la creazione di strumenti virtuali), la nuova stazione di misura.

In sintesi le principali attività:

1) Elettronica di condizionamento per i segnali elettrici provenienti da un fotomoltiplicatore mono/multicanale;

2) Elettronica di conteggio per le catene di foto-rilevazione X;

3) Posizionamento e controllo di viti micrometriche (con encoder) per attuare spostamenti e angoli;

4) Posizionamento assoluto e controllo del modulatore di fase meccanico (angoli +/- 15 °);

5) Software di automazione, analisi dati e interfaccia grafica in codice LabVIEW.

 

Riferimenti:

National Instruments

Ultima modifica: 11/07/2019 - 20:09