Tirocinio 04: Metrologia delle superfici funzionali e nanometrologia

Argomento: elettronica, informatica

Divisione di riferimento: AE Metrologia Applicata e Ingegneria

SSO: AE02

Tutore: G.B. Picotto, ricercatore

Per informazioni: 011 3919 969 / 011 3919 973, g.picotto@inrim.it

Possibilità di part-time:

 

Descrizione delle attività previste nel tirocinio:

Le superfici funzionali spaziano dalla meccanica (finitura e forma di parti meccaniche) agli oggetti di uso più comune (ergonomicità, visibilità e altre funzionalità delle superfici), dai dispositivi più vari (sensori, celle fotovoltaiche, ecc.) alle nanotecnologie.

Il laboratorio di metrologia delle superfici e nanometrologia dell’INRIM è dotato di strumenti ottici, a sonda e a contatto, per esplorare le superfici dalla micro alla nanoscala (microscopio a sonda, profilometro ottico e a stilo e rugosimetro).

Il tirocinante assisterà i responsabili delle tarature dei vari campioni (reticoli 1D, 2D, campioni a gradino, campioni di rugosità e righe ottiche) per apprendere la buona pratica da seguire nell’intero ciclo delle misure a partire dalla preparazione dei campioni fino all’esecuzione della misura, al calcolo e alla verifica dei risultati, per i quali ultimi è atteso che acquisisca buona autonomia di esecuzione ed analisi.

Il tirocinante assisterà altresì i responsabili delle misure alla nanoscala con il microscopio a sonda metrologico.

Ultima modifica: 11/07/2019 - 20:07