Il gruppo si occupa di misure dimensionali alla micro e nanoscala, mediante l’utilizzo di strumentazione riferita al Sistema Internazionale (SI). I principali temi di ricerca riguardano:
- lo sviluppo di nuove procedure di misura e valutazione dell’incertezza;
- lo sviluppo di nuove tecniche per l’analisi di topografie 3D (es. algoritmi di stitching).
Le attività riguardano:
Metrologia delle superfici funzionali: la metrologia delle superfici funzionali riguarda la correlazione quantitativa tra le caratteristiche geometriche (finitura, forma e dimensione) e le prestazioni di componenti la cui funzionalità dipende fortemente dalla superficie. Attraverso la definizione di descrittori unici, è possibile semplificare la caratterizzazione per oggetti derivanti da vari settori industriali (es. energetico e aerospaziale).
Nanometrologia dimensionale: la nanometrologia si pone a supporto delle nanoscienze per sviluppare materiali di riferimento e definire misurazioni quantitative atte a consolidare l’affidabilità e la competitività dei prodotti. Le attività si concentrano sullo studio di campioni proposti a supporto delle esigenze di misura 3D alla nanoscala, nello specifico su nanostrutture di origine vegetale come riferimento naturale di forma e dimensione, e su misure di dimensioni critiche di nanoparticelle a geometria complessa.